影響鍍層測厚儀測試的11種因素
鍍層測厚儀對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器,測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對覆層厚度有了明確的要求。
影響
鍍層測厚儀測試的因素有以下幾點(diǎn):
1、基體金屬磁性質(zhì):磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì):基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。
3、基體金屬厚度:每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng):
鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
5、曲率:試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形:測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度:基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。
8、磁場:周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著物質(zhì):
鍍層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
10、測頭壓力:測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
11、測頭的取向:測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。